ज्यामितीय गुणों के लिए मापन और परीक्षण उपकरण

परिचय

ज्यामितीय गुणों के लिए मापन और परीक्षण उपकरण में वे उपकरण, प्रणालियाँ और संदर्भ मानक शामिल हैं जिनका उपयोग निर्मित भागों के आकार, रूप, अभिविन्यास, स्थिति और सतह की स्थिति को सत्यापित करने के लिए किया जाता है। प्लास्टिक प्रसंस्करण में, ये उपकरण यह पुष्टि करने के लिए आवश्यक हैं कि मोल्डेड, एक्सट्रूडेड, थर्मोफॉर्म्ड या मशीनीकृत पॉलिमर घटक आयामी सहनशीलता और कार्यात्मक गुणवत्ता आवश्यकताओं को पूरा करते हैं।

यह श्रेणी सरल शॉप-फ्लोर उपकरणों जैसे कैलिपर्स, माइक्रोमीटर, डायल इंडिकेटर्स और प्लग गेज के साथ-साथ उन्नत प्रणालियों जैसे समन्वय मापन मशीनें (CMMs), विज़न मापन मशीनें, सतह खुरदरापन परीक्षक, गोलाई परीक्षक और ऑप्टिकल मेट्रोलॉजी सिस्टम को शामिल करती है। आधुनिक मेट्रोलॉजी उपकरण उत्पादन चक्र में ट्रेसेबल निरीक्षण का समर्थन करते हैं, आने वाली सामग्रियों और टूलिंग सत्यापन से लेकर इन-प्रोसेस नियंत्रण और अंतिम स्वीकृति तक।

प्लास्टिक विनिर्माण में, ज्यामितीय मेट्रोलॉजी विशेष रूप से महत्वपूर्ण है क्योंकि पॉलिमर भाग संकुचन, वॉरपेज, थर्मल इतिहास, टूलिंग स्थिति और नमी प्रभावों के प्रति संवेदनशील होते हैं। इस कारण, मापन प्रणालियों को अक्सर केवल नाममात्र सटीकता के लिए नहीं, बल्कि गति, दोहराव क्षमता, गैर-संपर्क क्षमता और नरम, चमकदार, पारभासी या लचीली सतहों के लिए उपयुक्तता के लिए चुना जाता है।

यह क्षेत्र मैनुअल गेज और ऑप्टिकल तुलनित्रों से स्वचालित, सॉफ्टवेयर-संचालित निरीक्षण कोशिकाओं की ओर विकसित हुआ है जो उत्पादन लाइनों और डिजिटल गुणवत्ता प्रणालियों के साथ एकीकृत हैं। वर्तमान विकास मल्टीसेंसर निरीक्षण, इन-लाइन मापन, रोबोट-सहायता प्राप्त हैंडलिंग और सांख्यिकीय प्रक्रिया नियंत्रण तथा इंडस्ट्री 4.0 अनुप्रयोगों के लिए डेटा कनेक्टिविटी पर जोर देते हैं। स्थिरता भी अधिक प्रासंगिक होती जा रही है, क्योंकि बेहतर आयामी नियंत्रण स्क्रैप, रीवर्क और ऊर्जा-गहन डाउनस्ट्रीम सुधार को कम करता है।

इतिहास और विकास

विनिर्माण में प्रारंभिक ज्यामितीय निरीक्षण फिक्स्ड गेज, स्लिप गेज और लंबाई तथा कोण मापन के लिए मैनुअल उपकरणों पर निर्भर था। इन उपकरणों ने भाग की तुलना ज्ञात मानक से करने के मूल सिद्धांत को स्थापित किया न कि केवल दृश्य निर्णय पर निर्भर रहने के।

एक प्रमुख प्रगति ऑप्टिकल तुलनित्र और सतह-प्लेट आधारित निरीक्षण के विकास के साथ आई, जिसने प्रोफाइल, समतलता और कोणीय विशेषताओं का अधिक सटीक मूल्यांकन करने की अनुमति दी। ये विधियाँ गियर, थ्रेड, डाई और अन्य सटीक घटकों के लिए विशेष रूप से मूल्यवान थीं जिनकी ज्यामिति को सरल रैखिक उपकरणों से पर्याप्त रूप से जांचा नहीं जा सकता था।

सबसे महत्वपूर्ण आधुनिकीकरण CMMs, फॉर्म मापन उपकरण और डिजिटल ऑप्टिकल मेट्रोलॉजी के प्रसार के साथ हुआ। इन प्रणालियों ने तीन-आयामी समन्वय सत्यापन, माइक्रोन-स्तरीय आयामी नियंत्रण और गोलाई, समाक्षीयता, समतलता और रनआउट जैसी ज्यामितीय सहनशीलताओं का स्वचालित मूल्यांकन संभव बनाया। समानांतर में, VDI/VDE/DGQ/DKD 2618 श्रृंखला जैसे मानकों ने ज्यामितीय मात्राओं के लिए मापन उपकरणों के परीक्षण को औपचारिक रूप दिया।

संदर्भ

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